變溫低場(chang)核(he)磁系(xi)統(tong)用(yong)於食(shi)品凍融(rong)穩定(ding)性(xing)的(de)研(yan)究

速凍食(shi)品通(tong)常(chang)采(cai)用快速冷凍(dong)和(he)低(di)溫儲存(cun)的(de)工(gong)藝，通(tong)過(guo)降低食(shi)品中水分含量(liang)和(he)水(shui)分活度來(lai)減(jian)少微(wei)生(sheng)物(wu)繁(fan)殖(zhi)的(de)風(feng)險、降低酶(mei)活性(xing)以(yi)及(ji)延緩食(shi)品原料(liao)間化學(xue)變化，以(yi)此達到延長產(chan)品貨架(jia)期(qi)和(he)方便(bian)消(xiao)費者食(shi)用(yong)的(de)目的(de)。然而(er)，速凍食(shi)品在運(yun)輸(shu)、儲(chu)存(cun)和(he)消(xiao)費過(guo)程(cheng)中，都會(hui)面臨無(wu)法保證(zheng)低(di)溫冷藏條件(jian)的(de)問題(ti)。溫度波動(dong)所(suo)導致(zhi)的(de)產(chan)品品質變化往往讓(rang)消(xiao)費者難(nan)以(yi)接(jie)受，如(ru)產(chan)品口(kou)感變(bian)差、失水(shui)變(bian)硬(ying)、蒸煮(zhu)後表皮開(kai)裂(lie)、失(shi)去彈性(xing)等。

澱粉凍(dong)融(rong)通(tong)常(chang)是(shi)指低溫（如-18℃）下(xia)對(dui)糊(hu)化或未糊(hu)化澱粉進行(xing)冷凍(dong)後再放置(zhi)室溫或者更(geng)高溫度(如30℃水(shui)浴(yu))下(xia)使(shi)澱粉融(rong)化的(de)過(guo)程。在此過程中，澱粉理(li)化性(xing)質及(ji)顆(ke)粒結(jie)構(gou)的(de)變(bian)化趨勢(shi)和(he)程(cheng)度反(fan)映了澱粉的(de)凍(dong)融(rong)穩定(ding)性(xing)，也直(zhi)接(jie)影響(xiang)了相關速凍食(shi)品的(de)質(zhi)構(gou)特(te)性(xing)。澱粉凍(dong)融(rong)穩定(ding)性(xing)的(de)研(yan)究有助(zhu)於進壹(yi)步(bu)了解(jie)澱粉分子的(de)內(nei)部(bu)結(jie)構(gou)，推動(dong)相關產(chan)品工(gong)業化生產(chan)條件(jian)的(de)優化。

凍融(rong)過(guo)程(cheng)對澱粉影(ying)響

凍(dong)融(rong)過(guo)程(cheng)通(tong)過(guo)水(shui)分子和(he)溫度的(de)作(zuo)用改(gai)變澱粉的(de)內(nei)部(bu)結(jie)構(gou)，對澱粉的(de)顆(ke)粒形態、質構(gou)特(te)征(zheng)、結(jie)晶(jing)狀(zhuang)態和(he)功(gong)能特(te)性(xing)產(chan)生顯(xian)著(zhu)影(ying)響(xiang)。壹(yi)般(ban)而(er)言，這(zhe)些(xie)影響(xiang)效果(guo)不利(li)於澱粉在(zai)凍融(rong)過(guo)程(cheng)中保持結(jie)構(gou)的(de)穩定(ding)。

澱粉在(zai)凍融(rong)過(guo)程(cheng)中，循環過程(cheng)形成的(de)冰晶(jing)和(he)微(wei)機械(xie)力會(hui)對澱粉顆(ke)粒造(zao)成損(sun)傷。經過(guo)多(duo)次(ci)凍融(rong)循環後，澱粉顆(ke)粒棱角出現(xian)損(sun)傷，表面變(bian)得(de)更(geng)粗(cu)糙(cao)且(qie)出現(xian)許(xu)多凹(ao)洞。凍融(rong)過(guo)程(cheng)中冰晶(jing)不(bu)斷(duan)融(rong)解(jie)和(he)再(zai)形成，反(fan)復(fu)對澱粉顆(ke)粒表面進行(xing)擠壓，從(cong)而(er)造(zao)成了(le)上述的(de)機(ji)械損傷並伴(ban)隨(sui)部(bu)分澱粉的(de)遊離溢出。

原(yuan)位(wei)變(bian)溫低場(chang)核(he)磁共(gong)振系統(tong)？

原(yuan)位(wei)變(bian)溫低場(chang)核(he)磁共(gong)振系統(tong)是(shi)指可以(yi)實現(xian)在(zai)線原(yuan)位(wei)改(gai)變樣品溫度，並在(zai)設置(zhi)溫度下(xia)對(dui)樣品進行(xing)原位(wei)測量(liang)的(de)低(di)場核(he)磁共(gong)振系統(tong)。該系(xi)統可同(tong)時(shi)實現(xian)弛(chi)豫分析和(he)磁共(gong)振成像(xiang)功(gong)能(neng)。

傳(chuan)統的(de)低(di)場核(he)磁共(gong)振系統(tong)是(shi)常溫測試(shi)系(xi)統，測試(shi)過(guo)程中樣品的(de)溫度保持與(yu)實驗(yan)室(shi)溫度（環境(jing)溫度）壹(yi)致(zhi)，檢(jian)測到的(de)數(shu)據(ju)與(yu)樣品在室溫下(xia)的(de)特(te)性(xing)相關。而(er)原位(wei)變(bian)溫低場(chang)核(he)磁共(gong)振系統(tong)可對(dui)樣品進行(xing)程序(xu)控(kong)溫（高低(di)溫），並進行(xing)原位(wei)檢(jian)測，可研(yan)究(jiu)不(bu)同溫度下(xia)樣品的(de)特(te)性(xing)。可對(dui)樣品進行(xing)冷凍(dong)過程、幹燥(zao)過(guo)程、蒸煮(zhu)過程、樣品冰點(dian)、食(shi)品變性(xing)過程(cheng)等相關研(yan)究(jiu)。

原位(wei)變(bian)溫低場(chang)核(he)磁共(gong)振系統(tong)是(shi)在常規(gui)低場核(he)磁共(gong)振系統(tong)上(shang)加配(pei)了(le)變(bian)溫探頭(tou)、控(kong)溫硬(ying)件以(yi)及(ji)控(kong)溫軟(ruan)件。系統(tong)樣機如(ru)下(xia)圖：