目(mu)前(qian)新能(neng)源，電子信(xin)息等高新制(zhi)造(zao)業中我們常常會(hui)使(shi)用(yong)電子漿料，這(zhe)種(zhong)漿料是(shi)由懸(xuan)浮在有(you)機載(zai)體(ti)中的(de)粉(fen)末(mo)，無機或高分子粘結劑構(gou)成的(de)固(gu)體(ti)顆(ke)粒(li)或(huo)有(you)機液體(ti)混合(he)的(de)體(ti)系(xi)，它(ta)通過(guo)印(yin)刷(shua)等方式應用(yong)於電(dian)子元器件中，形成具(ju)有(you)特(te)定功(gong)能(neng)的(de)模(mo)塊(kuai)。而(er)其(qi)體(ti)系(xi)的(de)穩(wen)定(ding)性(xing)、多相(xiang)結構的(de)親和(he)性(xing)對(dui)漿(jiang)料的(de)儲(chu)存(cun)與使(shi)用(yong)具有(you)直接(jie)影響(xiang)，傳統(tong)的(de)親和(he)性(xing)的(de)表(biao)征(zheng)手(shou)段(duan)主要(yao)包括使(shi)用(yong)動態(tai)光(guang)散(san)射測試粒(li)子的(de)分(fen)散(san)態，利(li)用(yong)TEM,SEM等觀察(cha)顆(ke)粒(li)的(de)形(xing)貌(mao)、團聚狀(zhuang)態(tai)，但都(dou)有(you)其(qi)局(ju)限(xian)性(xing)：光(guang)散(san)射方(fang)法需要(yao)稀(xi)釋樣品，不(bu)適用(yong)於不(bu)透光(guang)漿(jiang)料；TEM/SEM需(xu)要(yao)顆(ke)粒(li)與溶劑(ji)分(fen)離(li)，且(qie)只能(neng)觀測局(ju)部小視野(ye)下的(de)情況。顆粒(li)表(biao)面(mian)親和(he)性(xing)分析(xi)儀可(ke)實現(xian)不(bu)透光(guang)樣品，1ml以(yi)上(shang)樣品的(de)整(zheng)體(ti)親和(he)性(xing)分析(xi)。

產(chan)品簡介(jie)：

顆(ke)粒(li)表(biao)面(mian)親和(he)性(xing)分析(xi)儀，配(pei)有(you)專業(ye)的(de)測試軟(ruan)件，方便快捷，人性(xing)化(hua)的(de)軟(ruan)件操作確(que)保高效的(de)測試效率(lv)。 顆(ke)粒(li)表(biao)面(mian)親和(he)性(xing)分析(xi)儀在外(wai)觀設(she)計(ji)、硬件配置(zhi)、軟(ruan)件操作方(fang)面(mian)融合了先(xian)進的(de)技(ji)術(shu)並不(bu)斷升(sheng)級，確保了優秀的(de)產(chan)品性(xing)能(neng)與友好(hao)的(de)客(ke)戶(hu)體(ti)驗(yan)的(de)優秀結合。

產(chan)品功(gong)能(neng)：

1. 懸(xuan)浮液體(ti)系(xi)顆粒(li)濕(shi)式比(bi)表面(mian)積(ji)

2. 粒(li)子分散(san)性(xing)、穩定(ding)性(xing)評估(gu)

3. 顆(ke)粒(li)與介(jie)質(zhi)之(zhi)間親和(he)性(xing)評價

4. 粉(fen)體(ti)質(zhi)量控(kong)制(zhi)、分(fen)散(san)工藝(yi)、研磨(mo)工藝(yi)研究

5. 表(biao)面(mian)活性(xing)劑含(han)量(liang)分(fen)析(xi)

6. 順(shun)磁鐵磁性(xing)雜質(zhi)識別(bie)

7. 顆(ke)粒(li)改(gai)性(xing)增(zeng)強效(xiao)果(guo)評價

應用(yong)領域：

1）制(zhi)陶(tao)術(shu)：濕(shi)式制(zhi)程、加工工藝(yi)改(gai)善(shan), 分(fen)散(san)性(xing)的(de)質(zhi)控和(he)研發(fa)

2）納(na)米(mi)科(ke)技(ji)：納米(mi)粒(li)子表面(mian)的(de)化(hua)學(xue)狀(zhuang)態(tai), 如(ru): 吸(xi)附和(he)脫(tuo)附作(zuo)用(yong), 比(bi)表面(mian)積(ji)的(de)變化(hua) 等

3）電(dian)子材料：濃稠狀(zhuang)漿(jiang)料和(he)研磨(mo)液 (CMP) 的(de)開發(fa)及品管

4）墨(mo)水：碳黑(hei)、顏(yan)料分(fen)散(san), 最適研磨(mo)條件, 表面(mian)親和(he)性(xing)及化(hua)學(xue)和(he)物(wu)理(li)狀(zhuang)態(tai)

5）能(neng)源：電池(chi), 太(tai)陽能(neng)板等的(de)碳(tan)黑(hei), 納(na)米(mi)碳管和(he)漿(jiang)料的(de)分(fen)散(san), 粒(li)子表面(mian)的(de)化(hua)學(xue)和(he)物(wu)理(li)狀(zhuang)態(tai)

6）制(zhi)藥：API濕(shi)潤(run)性(xing)、親和(he)性(xing)及吸(xi)水性(xing)的(de)差(cha)異(yi)

7）其(qi)他: 全(quan)部的(de)濃稠分散(san)懸濁液(ye)體(ti), 納(na)米(mi)纖維, 納米(mi)碳等

性(xing)能(neng)優勢：

1. 制(zhi)樣簡單(dan)，無有(you)毒溶劑(ji)

2. 快(kuai)速

3. 非(fei)光(guang)學(xue)方法(fa)，可測不(bu)透光(guang)樣品

4. 具(ju)有(you)統(tong)計(ji)意義的(de)結果(guo)

5. 樣品可(ke)重(zhong)復測量

6. 由(you)未(wei)經培訓的(de)人(ren)員(yuan)進行(xing)測量

7. 可(ke)現場(chang)測試

應用(yong)案(an)例：

由(you)圖中可知：

采用(yong)以(yi)上(shang)三種(zhong)矽烷(wan)偶(ou)聯劑(ji)對(dui)矽(gui)微粉(fen)進行(xing)表(biao)面(mian)處理，均使(shi)得分(fen)散(san)體(ti)系(xi)的(de)馳(chi)豫(yu)率(lv)RSP值(zhi)變大(da)，說明(ming)這三種(zhong)矽烷(wan)偶(ou)聯劑(ji)都(dou)能(neng)夠(gou)改善樹脂顆粒(li)與溶劑(ji)的(de)親和(he)性(xing)。 其(qi)中，氨(an)基矽(gui)烷偶(ou)聯劑處理的(de)懸(xuan)浮液體(ti)系(xi)馳(chi)豫(yu)率(lv)RSP值最大(da)，說明(ming)其(qi)對(dui)溶液(ye)兩相(xiang)之(zhi)間的(de)親和(he)性(xing)改善(shan)效果(guo)較好(hao)。