納(na)米級二氧(yang)化(hua)矽(gui)作(zuo)為(wei)典型(xing)的納(na)米顆粒材料(liao)具有分(fen)散性好(hao)，比(bi)表(biao)面(mian)積(ji)大(da)，親水性、力(li)學補強(qiang)性、增稠(chou)性及(ji)防粘(zhan)結(jie)性等(deng)特(te)性，廣(guang)泛(fan)應(ying)用(yong)於電(dian)子(zi)封裝(zhuang)材料(liao)、高分(fen)子(zi)復合(he)材料(liao)、塑料(liao)、塗(tu)料、橡(xiang)膠、顏料(liao)、陶瓷、膠黏(nian)劑(ji)、玻(bo)璃(li)鋼(gang)、藥物(wu)載(zai)體、化(hua)妝(zhuang)品(pin)及(ji)抗(kang)菌材料(liao)、油墨等(deng)領域。

二(er)氧(yang)化(hua)矽(gui)納(na)米顆粒表面存(cun)在大(da)量(liang)的(de)不(bu)同狀(zhuang)態(tai)的羥基不飽(bao)和殘鍵(jian)，親水疏油(you)，易(yi)於團(tuan)聚，必(bi)須要(yao)對(dui)其進行功能(neng)化(hua)改(gai)性，以(yi)提(ti)高性能(neng)及(ji)應用(yong)範圍(wei)。

表(biao)面(mian)接(jie)枝(zhi)率(lv)測(ce)定(ding)儀(yi)是壹種(zhong)用(yong)於測(ce)量(liang)二(er)氧(yang)化(hua)矽(gui)納(na)米顆粒表面上接枝分(fen)子(zi)或聚合(he)物(wu)的(de)含量(liang)或(huo)密度的儀器(qi)。它(ta)可以(yi)評估(gu)材料(liao)表面的(de)功能(neng)化(hua)程(cheng)度和接枝效(xiao)果(guo)。

表(biao)面(mian)接(jie)枝(zhi)率(lv)測(ce)定(ding)儀(yi)檢(jian)測(ce)原(yuan)理(li)：

LU 等(deng)科(ke)學家(jia)采(cai)用(yong)多洛(luo)倫(lun)茲(zi)分(fen)裂(lie)算法(fa)將遊(you)離 PEG 的NMR信(xin)號(hao)與接枝(zhi)的 NMR信(xin)號(hao)區分(fen)開(kai)，從(cong)而(er)可以(yi)使(shi)用(yong)1H-NMR對(dui)接枝過(guo)程(cheng)進(jin)行原(yuan)位(wei)監(jian)測(ce)。該方(fang)法(fa)的優點(dian)是不受(shou)接(jie)枝(zhi)基團(tuan)末端(duan)官(guan)能(neng)團(tuan)類(lei)型(xing)、表(biao)面(mian)化(hua)學性質(zhi)、納(na)米粒子或組成(cheng)的(de)限(xian)制(zhi)，它(ta)還(hai)為(wei)相關(guan)科學研(yan)究(jiu)提供(gong)表(biao)征納(na)米顆粒上基團(tuan)接(jie)枝密度的關鍵(jian)和標準指南(nan)。低(di)場核磁技術(shu)因為(wei)其設備成(cheng)本(ben)較低(di)，使(shi)用(yong)簡(jian)單，適(shi)用(yong)於宏觀樣(yang)品等特(te)性，非(fei)常適(shi)用(yong)於快速(su)測(ce)定(ding)顆(ke)粒表面接(jie)枝率(lv)測(ce)定(ding)。它(ta)通(tong)過(guo)MSE系(xi)列序列實現(xian)死(si)時間(jian)內的1H核磁信號(hao)采(cai)集，最多的采(cai)集到(dao)了(le)接枝在顆(ke)粒表面的(de)基團(tuan)中(zhong)H原(yuan)子(zi)核(he)的(de)信號，利用(yong)外標(biao)法(fa)進行(xing)定(ding)量(liang)分(fen)析。

表(biao)面(mian)接(jie)枝(zhi)率(lv)測(ce)定(ding)儀(yi)產(chan)品(pin)功(gong)能(neng)：

樣(yang)品：納(na)米級二氧(yang)化(hua)矽(gui)

規格：可裝(zhuang)入(ru)10mm口徑(jing)試(shi)管(guan)，裝(zhuang)樣(yang)高度不超(chao)過(guo)2cm

註(zhu)意(yi)事(shi)項：樣(yang)品不得(de)含有鐵磁性物(wu)質(zhi)

表(biao)面(mian)接(jie)枝(zhi)率(lv)測(ce)定(ding)儀(yi)產(chan)品(pin)優勢(shi)：

1. 檢(jian)測(ce)成(cheng)本(ben)低(di)

2. 快速(su)簡(jian)單

3. 適(shi)用(yong)於宏觀樣(yang)品等特(te)性

4. 無(wu)需(xu)任何(he)專業操(cao)作(zuo)員培訓(xun)

表(biao)面(mian)接(jie)枝(zhi)率(lv)測(ce)定(ding)儀(yi)應(ying)用(yong)案(an)例(li)：

納(na)米顆粒表面積(ji)接枝(zhi)基團(tuan)