低(di)場(chang)核(he)磁(ci)技(ji)術用(yong)於評價(jia)有機(ji)顆(ke)粒分(fen)散性(xing)好(hao)

顆(ke)粒分(fen)散性(xing)是(shi)指粉(fen)體(ti)顆(ke)粒在(zai)液(ye)相介質中(zhong)分(fen)離散開(kai)並(bing)在(zai)整個液(ye)相中(zhong)均(jun)勻頒的過(guo)程，根(gen)據分(fen)散方(fang)法的不(bu)同，可(ke)分(fen)為(wei)以(yi)下(xia)幾(ji)種(zhong)：

機(ji)械(xie)攪(jiao)拌分(fen)散：主(zhu)要(yao)借(jie)助外(wai)佛羅裏(li)達(da)剪切(qie)力(li)或撞擊力(li)等機(ji)械(xie)能，使(shi)納米(mi)粒子(zi)在(zai)介質中(zhong)充分(fen)分(fen)散，通(tong)過(guo)對分(fen)散體(ti)系施(shi)加(jia)機(ji)械(xie)力，引(yin)起(qi)體系(xi)內(nei)物(wu)質(zhi)的物(wu)理、化(hua)學(xue)性(xing)質(zhi)變化(hua)以(yi)及(ji)伴隨的壹系(xi)列化(hua)學(xue)反應(ying)來達(da)到(dao)分(fen)散目(mu)的，但(dan)是研(yan)磨(mo)過程中因(yin)為(wei)研(yan)磨(mo)介質的存(cun)在(zai)而(er)帶來了(le)新雜質(zhi)，同時對(dui)於超(chao)微(wei)粒的形(xing)成(cheng)也有壹定(ding)的限(xian)制(zhi)。

利(li)用(yong)有機(ji)溶劑(ji)脫水(shui)：用(yong)表(biao)面(mian)張(zhang)力(li)小的有機(ji)溶劑(ji)置換顆粒表(biao)面(mian)吸(xi)附的水(shui)分(fen)，以(yi)減少(shao)造(zao)成(cheng)顆粒聚結的毛(mao)細(xi)管力。現(xian)常用(yong)的溶劑(ji)為(wei)醇(chun)類，目(mu)的是(shi)利(li)用(yong)醇(chun)類洗(xi)去(qu)脫(tuo)粒表(biao)面(mian)的配(pei)位水分(fen)子(zi)，並(bing)以(yi)烷(wan)氧(yang)基(ji)團(tuan)取(qu)代(dai)顆(ke)粒表(biao)面(mian)的羥(qiang)基(ji)團(tuan)。

有機(ji)顆(ke)粒分(fen)散性(xing)好(hao)如何(he)評價(jia)？

粒徑(jing)表(biao)征(zheng)描(miao)述顆(ke)粒分(fen)散性(xing)：顆(ke)粒在(zai)液(ye)體中(zhong)分(fen)散形(xing)成(cheng)懸浮體系，顆(ke)粒粒度(du)越小，且(qie)隨時間(jian)變化(hua)越(yue)穩定(ding)，可(ke)視為(wei)其分(fen)散性(xing)越(yue)好(hao)，不(bu)易(yi)團(tuan)聚。粒度(du)表(biao)征(zheng)通(tong)常(chang)用(yong)於表(biao)征(zheng)表(biao)面(mian)改性(xing)前(qian)後的顆(ke)粒分(fen)散性(xing)。顆(ke)粒的分(fen)散性(xing)越(yue)好(hao)，顆(ke)粒粒度(du)分(fen)布(bu)越接(jie)近單(dan)分(fen)散顆(ke)粒；相(xiang)反地(di)，顆(ke)粒分(fen)散性(xing)越(yue)差，顆粒尺(chi)寸分(fen)布(bu)趨於從(cong)單(dan)分(fen)散顆(ke)粒移(yi)動到較粗(cu)顆(ke)粒。

電(dian)鏡(jing)表(biao)征(zheng)描(miao)述顆(ke)粒分(fen)散性(xing)：掃描(miao)電(dian)鏡(jing)法(fa)是蕞(zui)直(zhi)觀的壹種(zhong)表(biao)征(zheng)顆粒在(zai)液(ye)體體(ti)系中的存(cun)在(zai)狀態的方(fang)法。將(jiang)顆粒在(zai)液(ye)相中(zhong)分(fen)散後(hou)，取適(shi)量懸浮(fu)液(ye)滴入(ru)掃描(miao)電(dian)鏡(jing)載(zai)物(wu)臺，烘(hong)幹後在(zai)電(dian)子(zi)顯微(wei)鏡下(xia)觀察(cha)，拍照(zhao)，可比(bi)較出(chu)分(fen)散性(xing)的好(hao)壞(huai)。

低(di)場(chang)核(he)磁(ci)技(ji)術可(ke)以(yi)用(yong)於顆(ke)粒分(fen)散性(xing)的描(miao)述，是(shi)壹種(zhong)快(kuai)速(su)無損的檢測技(ji)術。適(shi)用(yong)於科研(yan)與(yu)工(gong)業領域。低(di)場(chang)核(he)磁(ci)技(ji)術的好(hao)處(chu)之壹是(shi)測量(liang)是非侵(qin)入(ru)性(xing)的-測量(liang)可以(yi)在(zai)同壹樣(yang)品(pin)上重復(fu)進行，這(zhe)將(jiang)使穩定(ding)性(xing)研(yan)究(jiu)所(suo)需的試(shi)驗(yan)材料的數(shu)量蕞(zui)小化(hua)，並(bing)減少(shao)與取(qu)樣(yang)相(xiang)關的樣(yang)品(pin)結果(guo)的變(bian)化(hua)，特別是在(zai)早期開發制(zhi)造(zao)過程中。熱(re)研(yan)究(jiu)可以(yi)直接(jie)在(zai)核磁共振試(shi)管(guan)中進(jin)行，包括(kuo)高(gao)溫(wen)研(yan)究(jiu)和(he)凍(dong)融(rong)循(xun)環研(yan)究(jiu)。科學家使用(yong)流(liu)變學來監測濃(nong)縮(suo)分(fen)散體(ti)的物(wu)理穩定(ding)性(xing)，然(ran)而(er)，這(zhe)種(zhong)測量(liang)通(tong)常(chang)需要(yao)大量(liang)樣(yang)品(pin)，而(er)且具有破(po)壞(huai)性(xing)，而(er)核磁共振測量(liang)可以(yi)在(zai)整個穩定(ding)性(xing)研(yan)究(jiu)過程(cheng)中(zhong)對同壹樣(yang)品(pin)進行。

PQ001核(he)磁(ci)共振分(fen)析(xi)儀

低(di)場(chang)核(he)磁(ci)技(ji)術用(yong)於評價(jia)有機(ji)顆(ke)粒分(fen)散性(xing)好(hao)的基(ji)本(ben)原(yuan)理：

顆(ke)粒分(fen)散體(ti)中溶劑(ji)的弛豫速率(lv)與(yu)可(ke)用(yong)顆粒表(biao)面(mian)積成(cheng)線(xian)性(xing)比(bi)例(li)。與(yu)遊離聚合物相(xiang)關(guan)的溶劑(ji)或聚合物環和(he)尾(wei)部內(nei)的溶劑(ji)在(zai)弛豫速率(lv)方(fang)面(mian)沒有顯著(zhu)變化(hua)，因(yin)為(wei)它(ta)們仍(reng)然具(ju)有很(hen)高(gao)的流(liu)動性(xing)。當(dang)聚合物在(zai)顆粒表(biao)面(mian)形成(cheng)吸(xi)附層時，由於水(shui)分(fen)子(zi)在(zai)近表(biao)面(mian)區(qu)域(yu)的比(bi)例(li)和(he)/或停留(liu)時間(jian)增加，總(zong)的弛豫速率(lv)增強(qiang)。通(tong)過(guo)低(di)場(chang)核(he)磁(ci)技(ji)術的弛豫差異(yi)，即可(ke)低(di)場(chang)核(he)磁(ci)定(ding)量(liang)評價(jia)顆(ke)粒分(fen)散性(xing)。