低(di)場(chang)核磁(ci)技(ji)術(shu)用(yong)於(yu)評(ping)價納(na)米(mi)顆粒分(fen)散(san)性差(cha)

顆粒分(fen)散(san)性是指(zhi)粉(fen)體(ti)顆粒在(zai)液相介(jie)質中(zhong)分(fen)離(li)散(san)開並在(zai)整個(ge)液相中(zhong)均勻頒(ban)的(de)過(guo)程(cheng)，根據(ju)分(fen)散(san)方(fang)法的(de)不同，可分(fen)為(wei)以下幾(ji)種：

機(ji)械(xie)攪(jiao)拌(ban)分(fen)散(san)：主(zhu)要借助外佛(fo)羅裏(li)達剪切力(li)或撞(zhuang)擊(ji)力(li)等機(ji)械(xie)能(neng)，使(shi)納米粒子(zi)在(zai)介(jie)質中(zhong)充分(fen)分(fen)散(san)，通過(guo)對(dui)分(fen)散(san)體(ti)系(xi)施加機(ji)械(xie)力(li)，引(yin)起(qi)體系內(nei)物質的物理、化(hua)學(xue)性質變(bian)化(hua)以及伴隨的壹系列(lie)化(hua)學(xue)反應來達到(dao)分(fen)散(san)目(mu)的(de)，但是研(yan)磨(mo)過(guo)程(cheng)中(zhong)因為(wei)研(yan)磨(mo)介(jie)質的存在(zai)而帶(dai)來了(le)新(xin)雜(za)質(zhi)，同(tong)時(shi)對(dui)於(yu)超微粒的(de)形(xing)成(cheng)也有壹定的(de)限制(zhi)。

利用有(you)機(ji)溶(rong)劑(ji)脫(tuo)水：用表面(mian)張(zhang)力(li)小的有機溶(rong)劑(ji)置換(huan)顆粒表面(mian)吸附(fu)的(de)水分(fen)，以減(jian)少(shao)造(zao)成(cheng)顆粒聚(ju)結的(de)毛(mao)細管(guan)力(li)。現常(chang)用(yong)的溶(rong)劑(ji)為醇(chun)類(lei)，目的是(shi)利用醇(chun)類(lei)洗(xi)去(qu)脫(tuo)粒表面(mian)的配位(wei)水分(fen)子(zi)，並(bing)以烷氧(yang)基團(tuan)取代顆(ke)粒表面(mian)的羥基團。

納米(mi)顆(ke)粒分(fen)散(san)性差(cha)如何(he)評(ping)價？

粒徑(jing)表征(zheng)描述(shu)顆(ke)粒分(fen)散(san)性：顆粒在(zai)液體中(zhong)分(fen)散(san)形(xing)成(cheng)懸浮(fu)體(ti)系(xi)，顆(ke)粒粒度(du)越(yue)小，且隨時間(jian)變(bian)化(hua)越(yue)穩定，可視為其(qi)分(fen)散(san)性越好(hao)，不易團(tuan)聚(ju)。粒度(du)表征(zheng)通常(chang)用(yong)於表征(zheng)表面(mian)改(gai)性前後(hou)的(de)顆粒分(fen)散(san)性。顆粒的(de)分(fen)散(san)性越好(hao)，顆粒粒度(du)分(fen)布(bu)越(yue)接(jie)近單(dan)分(fen)散(san)顆(ke)粒；相(xiang)反地(di)，顆粒分(fen)散(san)性越差(cha)，顆粒尺(chi)寸(cun)分(fen)布(bu)趨於(yu)從(cong)單(dan)分(fen)散(san)顆(ke)粒移(yi)動到(dao)較粗顆(ke)粒。

電鏡(jing)表征(zheng)描述(shu)顆(ke)粒分(fen)散(san)性：掃描電鏡(jing)法是(shi)最(zui)直觀(guan)的(de)壹種表征(zheng)顆粒在(zai)液體體系中(zhong)的存在(zai)狀(zhuang)態(tai)的(de)方法。將(jiang)顆(ke)粒在(zai)液相中(zhong)分(fen)散(san)後(hou)，取適(shi)量(liang)懸浮(fu)液滴入掃描電鏡(jing)載(zai)物臺(tai)，烘幹後在(zai)電子(zi)顯微鏡(jing)下觀(guan)察，拍(pai)照(zhao)，可比較出(chu)分(fen)散(san)性的好(hao)壞。

低(di)場(chang)核磁(ci)技(ji)術(shu)可以用於顆(ke)粒分(fen)散(san)性的描(miao)述(shu)，是(shi)壹種快(kuai)速無損的(de)檢(jian)測(ce)技(ji)術(shu)。適(shi)用(yong)於科研(yan)與工(gong)業領域(yu)。低(di)場(chang)核磁(ci)技(ji)術(shu)的(de)好(hao)處之壹是測(ce)量是(shi)非(fei)侵入性的-測(ce)量可以在(zai)同壹樣品上(shang)重(zhong)復進(jin)行(xing)，這將(jiang)使(shi)穩定性研(yan)究所(suo)需(xu)的試驗材(cai)料(liao)的數(shu)量最(zui)小化(hua)，並(bing)減(jian)少(shao)與取樣相關(guan)的(de)樣品結果(guo)的變(bian)化(hua)，特(te)別(bie)是在(zai)早期(qi)開發制(zhi)造(zao)過(guo)程(cheng)中(zhong)。熱研(yan)究可以直接(jie)在(zai)核磁(ci)共(gong)振試管(guan)中(zhong)進(jin)行(xing)，包括(kuo)高(gao)溫(wen)研(yan)究和(he)凍融循環(huan)研(yan)究。科學(xue)家(jia)使(shi)用流變(bian)學(xue)來監(jian)測濃(nong)縮(suo)分(fen)散(san)體(ti)的(de)物理穩定性，然(ran)而(er)，這(zhe)種測(ce)量(liang)通常(chang)需(xu)要大量樣品，而(er)且(qie)具有破(po)壞性，而核磁(ci)共(gong)振測量可以在(zai)整個(ge)穩定性研(yan)究過(guo)程(cheng)中(zhong)對(dui)同(tong)壹樣品進(jin)行(xing)。

PQ001核磁(ci)共(gong)振分(fen)析(xi)儀(yi)

低(di)場(chang)核磁(ci)技(ji)術(shu)用(yong)於(yu)評(ping)價納(na)米(mi)顆粒分(fen)散(san)性差(cha)的基(ji)本原理：

顆粒分(fen)散(san)體(ti)中(zhong)溶(rong)劑(ji)的弛(chi)豫速率與可用顆粒表面(mian)積(ji)成(cheng)線性比例(li)。與遊離(li)聚(ju)合物相關的溶(rong)劑(ji)或聚(ju)合物環(huan)和尾(wei)部(bu)內的(de)溶(rong)劑(ji)在(zai)弛豫速率方面(mian)沒(mei)有顯著變(bian)化(hua)，因(yin)為(wei)它(ta)們仍然(ran)具(ju)有(you)很(hen)高(gao)的(de)流(liu)動性。當聚(ju)合物在(zai)顆粒表面(mian)形成(cheng)吸附(fu)層(ceng)時(shi)，由於水分(fen)子(zi)在(zai)近表面(mian)區域的比例(li)和/或(huo)停(ting)留時間(jian)增(zeng)加(jia)，總的弛豫速率增(zeng)強(qiang)。通過(guo)低(di)場(chang)核磁(ci)技(ji)術(shu)的(de)弛(chi)豫差(cha)異，即(ji)可低場(chang)核磁(ci)定(ding)量評(ping)價顆(ke)粒分(fen)散(san)性。