(聚合物的聚合速(su)率(lv)檢測)脈沖(chong)核(he)磁共振(zhen)分(fen)析(xi)儀基(ji)於(yu)低(di)場(chang)脈沖核(he)磁共振(zhen)技(ji)術(shu),是壹(yi)種強大(da)的(de)無(wu)損分(fen)析檢(jian)測工具(ju)。
(聚(ju)合物的聚合速(su)率(lv)檢測)脈沖(chong)核(he)磁共振(zhen)分(fen)析(xi)儀
(聚(ju)合物的聚合速(su)率(lv)檢測)脈沖(chong)核(he)磁共振(zhen)分(fen)析(xi)儀基(ji)於(yu)低場(chang)脈沖核(he)磁共振(zhen)技(ji)術(shu),是壹(yi)種強大(da)的(de)無(wu)損分(fen)析檢(jian)測工具(ju)。 已在包括(kuo)食(shi)品(pin)、農(nong)業(ye)、材料、工業(ye)質(zhi)量(liang)檢測和質量(liang)控制、能源(yuan)、醫藥(yao)等(deng)領(ling)域(yu)得(de)到了(le)廣泛(fan)的應用,工業(ye)質(zhi)控和大學(xue)的(de)研究實(shi)驗室中都有(you)脈(mai)沖核磁分析儀分(fen)身(shen)影。
低場(chang)脈沖核(he)磁共振(zhen)分(fen)析(xi)儀操(cao)作簡(jian)單,僅(jin)需(xu)簡(jian)單的(de)培訓(xun)即可使用儀器(qi),並(bing)且適(shi)用於(yu)工業(ye)在線應用。已(yi)在常規質(zhi)量(liang)控制和過程檢(jian)查中廣泛(fan)應用於(yu)各(ge)種(zhong)工業(ye)和研究機(ji)構(gou)。
聚合物具有廣泛(fan)的應用,其(qi)物(wu)理(li)和化(hua)學(xue)性(xing)質的不同(tong)讓(rang)其(qi)適(shi)用於(yu)不(bu)同(tong)領(ling)域(yu)。工廠(chang)可(ke)以根據(ju)需(xu)求設計(ji)出(chu)具有(you)相應特性的產(chan)品。 而如(ru)何優化(hua)聚合反應的條(tiao)件,以(yi)便(bian)獲得(de)高(gao)效(xiao)和高(gao)產(chan)的聚(ju)合物產(chan)品是工廠(chang)非(fei)常關(guan)心的(de)問(wen)題(ti)。大分子聚合物是由(you)較(jiao)小的簡(jian)單分(fen)子(單體(ti))重(zhong)復(fu)形(xing)成的(de),非(fei)常有必(bi)要測量(liang)聚合速(su)率(lv)或單體(ti)向(xiang)聚合物的轉化(hua)率(lv)隨時(shi)間的(de)變(bian)化(hua)。
T2弛豫(yu)快(kuai)慢可(ke)以(yi)評(ping)價分(fen)子或鏈段的運(yun)動(dong)情況,聚合物聚合過程中(zhong)對(dui)應的T2弛豫(yu)時(shi)間將隨著(zhe)分子鏈長(chang)的增(zeng)加而(er)降(jiang)低,而(er)遊(you)離(li)的(de)單體(ti)T2弛豫(yu)時(shi)間較(jiao)長(chang),可以建(jian)立T2弛豫(yu)時(shi)間與(yu)聚合速(su)率(lv)的對(dui)應關(guan)系進(jin)而(er)研究聚(ju)合速(su)率(lv)以及(ji)轉化(hua)過程。
(聚(ju)合物的聚合速(su)率(lv)檢測)脈沖(chong)核(he)磁共振(zhen)分(fen)析(xi)儀基(ji)本(ben)參數:
1、磁場(chang)強度:0.5±0.05T
2、探(tan)頭線圈(quan):Ø25mm;
低場(chang)脈沖核(he)磁共振(zhen)基(ji)本(ben)原理(li):
樣品(pin)放(fang)入(ru)磁體後,樣品(pin)中(zhong)的氫(qing)核會(hui)磁化(hua),形(xing)成與(yu)磁場(chang)平行的凈(jing)磁化(hua)強度。施加(jia)壹(yi)定頻(pin)率(lv)的射(she)頻(pin)脈(mai)沖樣品(pin)會(hui)吸收(shou)射(she)頻(pin)能量(liang),射頻(pin)施加(jia)完(wan)後可(ke)以觀察(cha)到核(he)自(zi)旋態從激(ji)發(fa)態到平衡態(tai)的(de)演變(bian),能量(liang)以FID (自(zi)由感應衰減(jian))衰減(jian)信(xin)號的形(xing)式(shi)放(fang)出(chu)。

FID的初(chu)始(shi)振(zhen)幅(fu)與(yu)樣品(pin)中(zhong)氫核(he)的數量(liang)成正比(bi)。FID衰減(jian)的原因主要有以(yi)下(xia)兩個:
1、磁場(chang)的不均(jun)勻性
2、氫核(he)之(zhi)間的(de)相互作(zuo)用(自(zi)旋-自(zi)旋弛豫(yu)),受(shou)時(shi)間常數T2控制。
可以(yi)通(tong)過CPMG序列(lie)消除磁場(chang)不均勻性的影響,它(ta)由壹(yi)系列(lie)脈沖(chong)組成,每(mei)個(ge)脈沖重(zhong)新(xin)聚焦(jiao)由於(yu)磁體不均勻而導致(zhi)的信(xin)號衰減(jian)。該信(xin)號由壹(yi)系列(lie)重(zhong)新(xin)聚焦(jiao)的信(xin)號組成(cheng),稱為“自(zi)旋回波(bo)”信(xin)號,每(mei)個(ge)信(xin)號的大(da)幅(fu)度略小於前(qian)壹(yi)個。 回波(bo)幅度的(de)衰減(jian)*歸(gui)因(yin)於自(zi)旋自(zi)旋弛豫(yu)。

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